作者：馬兵兵
作者單位：重慶市計量質量檢測研究院
刊名：濕法冶金
ISSN：1009-2617
出版年：2017-06-30
卷：36
期：4
起頁：350-354
止頁：
分類號：O657.34;TQ133.1
語種：中文
關鍵詞：高頻熔樣;X射線熒光光譜法;擬薄水鋁石;微量;痕量;雜質;
內容簡介研究了采用高頻熔融-X射線熒光光譜法測定擬薄水鋁石中SiO2、Fe2O3、Na2O、K2O、CaO、ZnO、TiO2、V2O5、P2O5等微量和痕量雜質含量。樣品以四硼酸鋰-偏硼酸鋰混合熔劑熔融,以溴化鋰為脫模劑,分別在800℃和1 000℃下加熱3min,之后在1 150℃下熔融8min,冷卻后制成玻璃片,進行測定。用與擬薄水鋁石基體及雜質含量相近的氧化鋁和氫氧化鋁國家標準物質繪制校準曲線,在相同條件下熔融成玻璃片測定各成分熒光強度。當雜質質量分數大于0.001%時,本法測定值與ICP-AES法和AAS法測定值相近,9種雜質成分檢出限在0.000 084%0.005 6%之間,不同成分測定值的相對標準偏差(n=10)在0.36%8.3%之間。
所需耐材幣：0
